|
陰極發(fā)光（CL）成像，背散射（BSE）成像时间：2022-07-09 作者：尚藝人【原创】 阅读 陰極發(fā)光（CL）成像 測(cè)試項(xiàng)目：陰極發(fā)光（CL）成像 測(cè)試對(duì)象：鋯石等單礦物鑲嵌靶、礦物薄片 測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日 送樣要求：靶表面光滑無(wú)劃痕，排列整齊。 完成標(biāo)準(zhǔn)：明暗度適宜，鋯石環(huán)帶清晰，單張拍攝后拼接成整圖。 活動(dòng)：凡拍攝陰極發(fā)光（CL）免費(fèi)贈(zèng)送透、反射光照相、單張拍攝后拼接成整圖。 提示：顆粒較小的樣品由于需放大200倍以上，有虛化情況，受鋯石發(fā)光性限制，少部分樣品無(wú)法獲得清晰環(huán)帶。 優(yōu)勢(shì)：具有LA-ICP-MS操作經(jīng)驗(yàn)，了解測(cè)試需求，據(jù)樣品實(shí)際情況針對(duì)每個(gè)單靶調(diào)整拍攝參數(shù)。 背散射（BSE）成像 測(cè)試項(xiàng)目：背散射（BSE）成像 測(cè)試對(duì)象：磷灰石等單礦物鑲嵌靶、礦物薄片 測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日 送樣要求：靶表面光滑無(wú)劃痕，排列整齊。 完成標(biāo)準(zhǔn)：明暗度適宜，單張拍攝后拼接成整圖。 上一篇巖礦鑒定 薄片鑒定 光片鑒定下一篇鋯石制靶、單礦物制靶 |
